- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Notes
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In: SPIE Optical Metrology. Munich, 25.-29. June 2017
In: Optical Measurement Systems for Industrial Inspection X, Herausgeber: Peter Lehmann, Herausgeber: Wolfgang Osten, Erscheinungsort: Bellingham, Wash., Verlag: SPIE, Erscheinungsjahr: 2017, Titel Schriftenreihe: Proceedings of SPIE, Bandnummer Schriftenreihe: 10329
- Classification
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Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Dresden
- (who)
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Technische Universität Dresden
- (when)
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2019
- Creator
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Bermuske, Mike
Büttner, Lars
Czarske, Jürgen
- URN
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urn:nbn:de:bsz:14-qucosa2-351511
- Rights
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
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25.04.2025, 1:22 PM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Bermuske, Mike
- Büttner, Lars
- Czarske, Jürgen
- Technische Universität Dresden
Time of origin
- 2019