Photoelektronenspektroskopie an Eisen-Silizium-Grenzflächenschichten und an Eisen-Silizium-Legierungen
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Dateien in unterschiedlichen Formaten
Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 1996
- Klassifikation
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Physik
- Schlagwort
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Eisenlegierung
Siliciumlegierung
Metallisches Glas
Elektronische Eigenschaft
Photoelektronenspektroskopie
Silicium
Eisen
Dünne Schicht
Grenzfläche
Elektronische Eigenschaft
Photoelektronenspektroskopie
Bandstruktur
Asymmetrie
Lebensdauer
Bindungsenergie
Photoelektronenspektroskopie
- Urheber
- URN
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urn:nbn:de:bsz:ch1-199700081
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:45 MEZ
Datenpartner
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