Photoelektronenspektroskopie an Eisen-Silizium-Grenzflächenschichten und an Eisen-Silizium-Legierungen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Dateien in unterschiedlichen Formaten
Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 1996

Klassifikation
Physik
Schlagwort
Eisenlegierung
Siliciumlegierung
Metallisches Glas
Elektronische Eigenschaft
Photoelektronenspektroskopie
Silicium
Eisen
Dünne Schicht
Grenzfläche
Elektronische Eigenschaft
Photoelektronenspektroskopie
Bandstruktur
Asymmetrie
Lebensdauer
Bindungsenergie
Photoelektronenspektroskopie

Urheber

URN
urn:nbn:de:bsz:ch1-199700081
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:45 MEZ

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