Hochschulschrift

Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer-aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen

Alternative title
Charakterisierung von Mikro- und Nanometer-aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
II, 129 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2012

Keyword
Optische Messung ; Fertigungsmesstechnik

Creator
Tan, Özgür

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Last update
11.06.2025, 2:27 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Tan, Özgür

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