Hochschulschrift
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer-aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2009
- Schlagwort
-
Fertigungsmesstechnik ; Sensor ; Nanotechnologie ; Oberfläche
- Urheber
- URN
-
urn:nbn:de:bvb:29-opus-12818
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
- 14.08.2025, 10:51 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek.
Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
Ähnliche Objekte (12)
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer-aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik
Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer-aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
k-aufgelöste Inverse Photoemission an 6H-Siliziumkarbid(0001)-Oberflächen
Atomar aufgelöste Kraftmikroskopie auf ionischen Oberflächen : Fluoride, Calcit und Saphir
Atomar aufgelöste Kraftmikroskopie auf ionischen Oberflächen: Fluoride, Calcit und Saphir
Nanometer-MOSFETs für Digital- und Hochfrequenzanwendungen
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Nanometer-MOSFETs für Digital- und Hochfrequenzanwendungen
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Elektrische Charakterisierung der Oberfläche ferroelektrischer Schichten
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer-aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik
Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer-aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
k-aufgelöste Inverse Photoemission an 6H-Siliziumkarbid(0001)-Oberflächen
Atomar aufgelöste Kraftmikroskopie auf ionischen Oberflächen : Fluoride, Calcit und Saphir
Atomar aufgelöste Kraftmikroskopie auf ionischen Oberflächen: Fluoride, Calcit und Saphir
Nanometer-MOSFETs für Digital- und Hochfrequenzanwendungen
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Nanometer-MOSFETs für Digital- und Hochfrequenzanwendungen
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Elektrische Charakterisierung der Oberfläche ferroelektrischer Schichten
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik
Elektrische Werkstückantastung für Nanometer-aufgelöste Oberflächen- und Koordinatenmesstechnik
Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer-aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
Characterization of micro- and nanometer resolved technical surfaces with function-oriented parameters : = Charakterisierung von Mikro- und Nanometer aufgelösten technischen Oberflächen mit funktionsorientierten Kenngrößen
k-aufgelöste Inverse Photoemission an 6H-Siliziumkarbid(0001)-Oberflächen
Atomar aufgelöste Kraftmikroskopie auf ionischen Oberflächen : Fluoride, Calcit und Saphir
Atomar aufgelöste Kraftmikroskopie auf ionischen Oberflächen: Fluoride, Calcit und Saphir
Nanometer-MOSFETs für Digital- und Hochfrequenzanwendungen
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten
Nanometer-MOSFETs für Digital- und Hochfrequenzanwendungen
Atmosphärische Photoionisation mit Nanometer-Samarium-Elektronemitterschichten