Hochschulschrift
Konzeption und Untersuchung eines fehlertoleranten FET-Umrichters
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783844066616
3844066616
- Maße
-
21 cm, 308 g
- Umfang
-
XII, 189 Seiten
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Illustrationen
Universität der Bundeswehr München, Dissertation, 2019
- Erschienen in
-
Forschungsberichte Leistungselektronik und Steuerungen ; Band 11
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
Umrichter
Feldeffekttransistor
Niederspannung
Wide-bandgap Halbleiter
Fehlertoleranz
Schaltverhalten
Leistungselektronik
Verlustleistung
Fehleranalyse
Ausfallsicheres System
Umrichter
Elektrische Spannung
Temperaturabhängiger Widerstand
Schiene
Gedruckte Schaltung
Treiberschaltung
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Düren
- (wer)
-
Shaker Verlag
- (wann)
-
2019
- Urheber
-
Kapaun, Florian
- Beteiligte Personen und Organisationen
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:31 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Kapaun, Florian
- Shaker Verlag
- Shaker Verlag
Entstanden
- 2019