Hochschulschrift

Konzeption und Untersuchung eines fehlertoleranten FET-Umrichters

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783844066616
3844066616
Maße
21 cm, 308 g
Umfang
XII, 189 Seiten
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Illustrationen
Universität der Bundeswehr München, Dissertation, 2019

Erschienen in
Forschungsberichte Leistungselektronik und Steuerungen ; Band 11

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
Umrichter
Feldeffekttransistor
Niederspannung
Wide-bandgap Halbleiter
Fehlertoleranz
Schaltverhalten
Leistungselektronik
Verlustleistung
Fehleranalyse
Ausfallsicheres System
Umrichter
Elektrische Spannung
Temperaturabhängiger Widerstand
Schiene
Gedruckte Schaltung
Treiberschaltung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Düren
(wer)
Shaker Verlag
(wann)
2019
Urheber
Kapaun, Florian
Beteiligte Personen und Organisationen

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:31 MESZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2019

Ähnliche Objekte (12)