A new test specimen for the determination of the field of view of small-area X-ray photoelectron spectrometers

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Surface and Interface Analysis, 52, S. 1-5

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(when)
2020
Creator
Stockmann, Jörg Manfred
Radnik, Jörg
Bütefisch, S.
Busch, I.
Weimann, T.
Passiu, C.
Rossi, A.
Unger, Wolfgang E. S.

DOI
10.1002/sia.6831
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-509902
Rights
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Last update
14.08.2025, 10:52 AM CEST

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  • Stockmann, Jörg Manfred
  • Radnik, Jörg
  • Bütefisch, S.
  • Busch, I.
  • Weimann, T.
  • Passiu, C.
  • Rossi, A.
  • Unger, Wolfgang E. S.
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Time of origin

  • 2020

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