Hochschulschrift
Untersuchungen zum Nachweis dünner Schichten in der Elektronenstrahlmikroanalyse und zum Leistungsvermögen des energiedispersiven Röntgenspektrometers
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
134 Bl.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Halle, Univ., Diss. A, 1981
- Schlagwort
-
Dünne Schicht
Elektronenstrahl-Mikroanalyse
Dünne Schicht
Elektronenstrahl-Beschichtung
- Urheber
-
Krajewski, Thomas
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:46 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Krajewski, Thomas
Ähnliche Objekte (12)
SAG "Dünne Schichten"
SAG "Dünne Schichten"
SAG "Dünne SChichten"
Arbeitsgruppe Dünne Schichten
Charakterisierung dünner Schichten
Nachweis von Inhomogenität und Anisotropie in dünnen optischen Schichten
Untersuchungen zum Leistungsvermögen von Automaten
Suprastrukturelle Chiralität dünner Schichten
Suprastrukturelle Chiralität dünner Schichten
Dielektrische Eigenschaften dünner Schichten
B) Herstellung dünner Schichten
Energieübergang durch dünne Schichten
SAG "Dünne Schichten"
SAG "Dünne Schichten"
SAG "Dünne SChichten"
Arbeitsgruppe Dünne Schichten
Charakterisierung dünner Schichten
Nachweis von Inhomogenität und Anisotropie in dünnen optischen Schichten
Untersuchungen zum Leistungsvermögen von Automaten
Suprastrukturelle Chiralität dünner Schichten
Suprastrukturelle Chiralität dünner Schichten
Dielektrische Eigenschaften dünner Schichten
B) Herstellung dünner Schichten
Energieübergang durch dünne Schichten
SAG "Dünne Schichten"
SAG "Dünne Schichten"
SAG "Dünne SChichten"
Arbeitsgruppe Dünne Schichten
Charakterisierung dünner Schichten
Nachweis von Inhomogenität und Anisotropie in dünnen optischen Schichten
Untersuchungen zum Leistungsvermögen von Automaten
Suprastrukturelle Chiralität dünner Schichten
Suprastrukturelle Chiralität dünner Schichten
Dielektrische Eigenschaften dünner Schichten
B) Herstellung dünner Schichten