Hochschulschrift
Relation between growth rate, material quality, and device grade condition for intrinsic microcrystalline silicon : from layer investigation to the application to thin-film tandem solar cells
- Weitere Titel
-
Zusammenhang zwischen Wachstumsrate, Materialqualität und Bauelementeignung von mikrokristallinem Silizium
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
In: Jülich : Forschungszentrum Jülich, Zentralbibliothek, 2015 (Schriften des Forschungszentrums Jülich : Reihe Energie & Umwelt)
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Dissertation, 2015
- Klassifikation
-
Physik
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Aachen
- (wer)
-
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (wann)
-
2015
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
- URN
-
urn:nbn:de:hbz:82-rwth-2015-012581
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:53 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Michard, Stephan Yann
- Rau, Uwe
- Knoch, Joachim
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Entstanden
- 2015
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