Non-destructive spatially resolved characterization of porous silicon layer stacks

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: AIP Conference Proceedings. American Institute of Physics (AIP). 2023(2826), 120002. ISSN 0094-243X. eISSN 1551-7616. Available under: doi: 10.1063/5.0141239

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Konstanz
(wer)
KOPS Universität Konstanz
(wann)
2023
Urheber
Micard, Gabriel
Botchak, Yves Patrick
Terheiden, Barbara

URN
urn:nbn:de:bsz:352-2-16flwk18d7ifk7
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:56 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Micard, Gabriel
  • Botchak, Yves Patrick
  • Terheiden, Barbara
  • KOPS Universität Konstanz

Entstanden

  • 2023

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