Monografie
Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state
- Sprache
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Englisch
- Umfang
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XII, 238 S.
- Anmerkungen
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Zugl.: Karlsruhe, Univ., Habil.-Schr., 2001
- ISBN
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978-3-540-00414-1
- Identifier
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966198514
- Reihe
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Springer tracts in modern physics; Vol. 182 ; Physics and astronomy online library
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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16.08.2023, 18:21 MESZ
Objekttyp
- Monografie