Monografie

Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state

Sprache
Englisch
Umfang
XII, 238 S.
Anmerkungen
Zugl.: Karlsruhe, Univ., Habil.-Schr., 2001
ISBN
978-3-540-00414-1
Identifier
966198514

Reihe
Springer tracts in modern physics; Vol. 182 ; Physics and astronomy online library

Thema
Verbindungshalbleiter ; Nanostruktur ; Durchstrahlungselektronenmikroskopie ; Hochschulschrift

Beteiligte Personen und Organisationen

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Der Zugriff auf Teile des Objekts ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
16.08.2023, 18:21 MESZ

Objekttyp


  • Monografie

Beteiligte


Ähnliche Objekte (12)