Broadband reflectometry for enhanced diagnostics and monitoring applications

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783642267970
9783642202322
3642202322
Dimensions
24 cm
Extent
XVIII, 148 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Bibliographic citation
Lecture notes in electrical engineering ; Vol. 93

Keyword
Frequenzbereichsreflektometrie
Zeitbereichsreflektometrie
Mikrowellentechnik
Impedanzspektroskopie

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin, Heidelberg
(who)
Springer
(when)
2011
Creator
Cataldo, Andrea
De Benedetto, Egidio
Cannazza, Giuseppe

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Last update
11.06.2025, 2:07 PM CEST

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  • Cataldo, Andrea
  • De Benedetto, Egidio
  • Cannazza, Giuseppe
  • Springer

Time of origin

  • 2011

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