On the frequency dependence of viscoelastic material characterization with intermittent-contact dynamic atomic force microscopy: avoiding mischaracterization across large frequency ranges
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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On the frequency dependence of viscoelastic material characterization with intermittent-contact dynamic atomic force microscopy: avoiding mischaracterization across large frequency ranges ; volume:11 ; pages:1409-1418
Beilstein journal of nanotechnology ; 11, 1409-1418
- Klassifikation
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Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- DOI
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10.3762/bjnano.11.125
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2020120316444684587274
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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15.08.2025, 07:35 MESZ
Datenpartner
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