Metal oxide-graphene field-effect transistor: interface trap density extraction model

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource

Bibliographic citation
Metal oxide-graphene field-effect transistor: interface trap density extraction model ; volume:7 ; pages:1368-1376
Beilstein journal of nanotechnology ; 7, 1368-1376

Classification
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

DOI
10.3762/bjnano.7.128
URN
urn:nbn:de:101:1-201701181747
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 10:57 AM CEST

Data provider

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