Ultrafast lattice response of photoexcited thin films studied by X-ray diffraction

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Structural dynamics, 1,6, S. 064501-1 - 064501-13-

Klassifikation
Physik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(wann)
2014
Urheber
Schick, D.
Herzog, M.
Bojahr, A.
Leitenberger, W.
Hertwig, Andreas
Shayduk, R.
Bargheer, M.

URN
urn:nbn:de:kobv:b43-322471
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:47 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Schick, D.
  • Herzog, M.
  • Bojahr, A.
  • Leitenberger, W.
  • Hertwig, Andreas
  • Shayduk, R.
  • Bargheer, M.
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Entstanden

  • 2014

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