Simulation assisted high-resolution psi analysis

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Schunert, A.; Balz, T.; Liu, K.; Liao, M. S.; Soergel, U. et al.: Simulation assisted high-resolution psi analysis. In: International Archives of the Photogrammetry, Remote Sensing and Spatial Information Sciences: [100 Years ISPRS Advancing Remote Sensing Science, Pt 1] 38 (2010), Nr. 7B, S. 498-503

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(wann)
2010
Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(wann)
2010
Urheber
Schunert, Alexander
Balz, T.
Liu, K.
Liao, M.S.
Sörgel, Uwe
Wegner, Jan Dirk

DOI
10.15488/1118
URN
urn:nbn:de:101:1-2020080807053105610187
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:43 MEZ

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Beteiligte

  • Schunert, Alexander
  • Balz, T.
  • Liu, K.
  • Liao, M.S.
  • Sörgel, Uwe
  • Wegner, Jan Dirk
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Entstanden

  • 2010

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