Hochschulschrift

Das Transportverhalten heisser Elektronen an Metall-Halbleiterkontakten untersucht mit Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie (BEEM)

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
130 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Berlin, Freie Univ., Diss., 1993

Schlagwort
Metall-Halbleiter-Kontakt
Heißes Elektron
Elektronentransport
Ballistische-Elektronen-Emissions-Mikroskopie

Urheber
Bauer, Andreas

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Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:00 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Bauer, Andreas

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