- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783540433934
3540433937
- Maße
-
24 cm
- Umfang
-
XXII, 401 S.
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Literaturverz. S. 351 - 401
- Erschienen in
-
Springer series in materials science ; 57
- Schlagwort
-
Halbleiter
Strahlenschaden
Halbleiterbauelement
Strahlenschaden
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Berlin, Heidelberg, New York, Barcelona, Hong Kong, London, Milan, Paris, Tokyo
- (wer)
-
Springer
- (wann)
-
2002
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:43 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Claeys, Cor L.
- Simoen, Eddy
- Springer
Entstanden
- 2002
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