Hochschulschrift
Temperatur- und injektionsabhängige Photospannungsmessungen zur Defektcharakterisierung in kristallinem Silizium
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
III, 157 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Freiberg (Sachsen), Techn. Univ., Diss., 2014 (Nicht für den Austausch)
- Keyword
-
Silicium
Störstelle
Photospannung
Festkörperoberfläche
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 1:37 PM CEST
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Object type
- Hochschulschrift
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