Influence of active electrode impurity on memristive characteristics of ECM devices
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Bibliographic citation
-
In: 10.1007/s10008-024-05821-w
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Aachen
- (who)
-
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
- (when)
-
2024
- Creator
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Michieletti, Fabio
Chen, Shaochuan
Schmidt-Weber, Carsten P.
Ricciardi, Carlo
Ohno, Takeo
Valov, Ilia
- DOI
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10.18154/RWTH-2024-01710
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2024022400432335882142
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:50 PM CET
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Michieletti, Fabio
- Chen, Shaochuan
- Schmidt-Weber, Carsten P.
- Ricciardi, Carlo
- Ohno, Takeo
- Valov, Ilia
- Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
Time of origin
- 2024