Influence of active electrode impurity on memristive characteristics of ECM devices

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: 10.1007/s10008-024-05821-w

Classification
Elektrotechnik, Elektronik

Event
Veröffentlichung
(where)
Aachen
(who)
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
(when)
2024
Creator
Michieletti, Fabio
Chen, Shaochuan
Schmidt-Weber, Carsten P.
Ricciardi, Carlo
Ohno, Takeo
Valov, Ilia

DOI
10.18154/RWTH-2024-01710
URN
urn:nbn:de:101:1-2024022400432335882142
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:50 PM CET

Data provider

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Associated

  • Michieletti, Fabio
  • Chen, Shaochuan
  • Schmidt-Weber, Carsten P.
  • Ricciardi, Carlo
  • Ohno, Takeo
  • Valov, Ilia
  • Universitätsbibliothek der RWTH Aachen

Time of origin

  • 2024

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