Hochschulschrift

AlGaN-GaN HEMTs reliability : degradation modes and analysis

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783954042593
Dimensions
21 cm
Extent
XII, 110 S.
Edition
1. Aufl.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 2012

Bibliographic citation
Innovationen mit Mikrowellen und Licht ; Bd. 23

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Galliumnitrid
Aluminiumnitrid
HEMT
Degradation
Zuverlässigkeit

Event
Veröffentlichung
(where)
Göttingen
(who)
Cuvillier
(when)
2012
Creator
Ivo, Ponky

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Last update
11.03.2025, 12:13 PM CET

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Object type

  • Hochschulschrift

Associated

  • Ivo, Ponky
  • Cuvillier

Time of origin

  • 2012

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