Reliability Modeling and Mitigation in Advanced Memory Technologies and Paradigms

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Dissertation, 2024

Schlagwort
Zuverlässigkeit
CMOS

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Karlsruhe
(wer)
KIT-Bibliothek
(wann)
2024
Urheber
Mayahinia, Mahta
Beteiligte Personen und Organisationen
Tahoori, Mehdi B.
Anghel, Lorena

DOI
10.5445/IR/1000172703
URN
urn:nbn:de:101:1-2407310459062.953192251146
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:57 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Mayahinia, Mahta
  • Tahoori, Mehdi B.
  • Anghel, Lorena
  • KIT-Bibliothek

Entstanden

  • 2024

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