Optimized synthesis of self-testable finite state machines

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
In: Fault tolerant computing : digest of papers. Los Alamitos, Calif. : IEEE Computer Soc. Pr. - ISBN 0-8186-2051-X, S. 390-397. URL http://dx.doi.org./10.1109/FTCS.1990.89393

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Selbsttest ; VLSI ; Integrierte Schaltung

Event
Veröffentlichung
(where)
Stuttgart
(who)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(when)
2012
Creator
Eschermann, Bernhard
Wunderlich, Hans-Joachim

URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-73199
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:55 PM CET

Data provider

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Time of origin

  • 2012

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