IEMI Vulnerability Analysis for Different Smart Grid-enabled Devices

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
In: Aduini, Fernando; Nateghi, Arash; Schaarschmidt, Martin; Lanzrath, Marian; Suhrke, Michael: IEMI Vulnerability Analysis for Different Smart Grid-enabled Devices. In: Garbe, H. (Ed.): Proceedings EMV Kongress 2022. Aachen : Apprimus, 2022, S. 193-200

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
(wann)
2022
Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Hannover
(wer)
Technische Informationsbibliothek (TIB)
(wann)
2022
Urheber
Aduini, Fernando
Nateghi, Arash
Schaarschmidt, Martin
Lanzrath, Marian
Suhrke, Michael

DOI
10.15488/12576
URN
urn:nbn:de:101:1-2022081802105026063876
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:43 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Aduini, Fernando
  • Nateghi, Arash
  • Schaarschmidt, Martin
  • Lanzrath, Marian
  • Suhrke, Michael
  • Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
  • Technische Informationsbibliothek (TIB)

Entstanden

  • 2022

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