Hochschulschrift
Untersuchungen über die Oxidation verschiedener Metalle im Monolagenbereich mit Hilfe des statischen Verfahrens der Sekundärionen- Massenspektrometrie
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
8°
- Extent
-
S. 416-426; 427-436.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Aus: Surface Science. 39. 1973 zusammen mit A. Benninghoven u. d. T.: Investigation of surface reactions by the static method of secondary ion mass spectrometry.
Kurzfassung von: Köln, Univ., Math.-Naturwiss. Fak., Diss. 1973.
- Creator
-
Müller, Arnulf
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 1:41 PM CEST
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Müller, Arnulf
Other Objects (12)
Untersuchung der Oxidbildung auf einer Eisenoberfläche mit Hilfe der statischen Methode der Sekundärionen-Massenspektrometrie
Abbildende molekulare Flugzeit : Sekundärionen-Massenspektrometrie
Aspekte der quantitativen Sekundärionen-Massenspektrometrie
Entwicklung und Anwendung von hochauflösenden Flugzeitspektrometern für die statische Sekundärionen-Massenspektrometrie
Temperaturprogrammierte statische Sekundärionen-Massenspektrometrie (TP-SIMS) : Untersuchungen an Polymermonolagen auf Metallsubstraten
Sekundärionen-Massenspektrometrie an Kupferoxid und Zinkoxid
Ortsaufgelöste Ultraspurenanalyse mittels Sekundärionen-Massenspektrometrie und Laser- Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie
Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten
Sekundärionen-Massenspektrometrie an festkörpergestützten monomolekularen organischen Schichten
Nanoskalauntersuchungen vom zellulären Metabolismus mittels Sekundärionen-Massenspektrometrie
Anwendung der Sekundärionen-Massenspektrometrie in der Mikroelektronik
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Untersuchung der Oxidbildung auf einer Eisenoberfläche mit Hilfe der statischen Methode der Sekundärionen-Massenspektrometrie
Abbildende molekulare Flugzeit : Sekundärionen-Massenspektrometrie
Aspekte der quantitativen Sekundärionen-Massenspektrometrie
Entwicklung und Anwendung von hochauflösenden Flugzeitspektrometern für die statische Sekundärionen-Massenspektrometrie
Temperaturprogrammierte statische Sekundärionen-Massenspektrometrie (TP-SIMS) : Untersuchungen an Polymermonolagen auf Metallsubstraten
Sekundärionen-Massenspektrometrie an Kupferoxid und Zinkoxid
Ortsaufgelöste Ultraspurenanalyse mittels Sekundärionen-Massenspektrometrie und Laser- Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie
Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten
Sekundärionen-Massenspektrometrie an festkörpergestützten monomolekularen organischen Schichten
Nanoskalauntersuchungen vom zellulären Metabolismus mittels Sekundärionen-Massenspektrometrie
Anwendung der Sekundärionen-Massenspektrometrie in der Mikroelektronik
Hochauflösende Sekundärionen-Massenspektrometrie (TOF-SIMS) an Halbleiterstrukturen
Untersuchung der Oxidbildung auf einer Eisenoberfläche mit Hilfe der statischen Methode der Sekundärionen-Massenspektrometrie
Abbildende molekulare Flugzeit : Sekundärionen-Massenspektrometrie
Aspekte der quantitativen Sekundärionen-Massenspektrometrie
Entwicklung und Anwendung von hochauflösenden Flugzeitspektrometern für die statische Sekundärionen-Massenspektrometrie
Temperaturprogrammierte statische Sekundärionen-Massenspektrometrie (TP-SIMS) : Untersuchungen an Polymermonolagen auf Metallsubstraten
Sekundärionen-Massenspektrometrie an Kupferoxid und Zinkoxid
Ortsaufgelöste Ultraspurenanalyse mittels Sekundärionen-Massenspektrometrie und Laser- Sekundärneutralteilchen-Massenspektrometrie
Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten
Sekundärionen-Massenspektrometrie an festkörpergestützten monomolekularen organischen Schichten
Nanoskalauntersuchungen vom zellulären Metabolismus mittels Sekundärionen-Massenspektrometrie
Anwendung der Sekundärionen-Massenspektrometrie in der Mikroelektronik