Application of contact-resonance AFM methods to polymer samples

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Beilstein Journal of Nanotechnology, 11, S. 1714-1727

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(when)
2020
Creator
Friedrich, Sebastian
Cappella, Brunero

DOI
10.3762/bjnano.11.154
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-515621
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:43 PM CET

Data provider

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  • Friedrich, Sebastian
  • Cappella, Brunero
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Time of origin

  • 2020

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