Hochschulschrift | Online-Publikation
Defektcharakterisierung in Halbleiterschichten mit Hilfe der Positronenannihilation
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Halle (Saale), Univ, Diss., 2000
- Keyword
-
Galliumarsenid
Wafer
Positronen-Annihilations-Spektroskopie
Kupfergalliumselenid
Kupferindiumselenid
Mischkristall
Dünne Schicht
Störstelle
Positronen-Annihilations-Spektroskopie
Silicium
Ionenimplantation
Positronen-Annihilations-Spektroskopie
- Creator
- URN
-
urn:nbn:de:gbv:3-000001524
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:52 PM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
- Online-Publikation
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