Hochschulschrift
Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator-, Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2-Si(111)
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
-
30 cm
- Extent
-
II, 113 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Hannover, Univ., Diss., 1997
- Keyword
-
Silicium
Kristallfläche
Calciumfluorid
Rasterkraftmikroskopie
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 1:53 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
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Nanostrukturierte Halbleiter-Isolator-Halbleiter Solarzellen
Elektricitätsleiter, Halbleiter, Isolatoren.
Röntgenstrukturanalyse von Halbleiter-Isolator-Schichtsystemen
Ferro- und ferrimagnetische Halbleiter und Isolatoren
Elektrische Relaxationsströme in hochohmigen Halbleitern und Isolatoren
Die Metall-Isolator-Halbleiter-Diode als Varaktor
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