Hochschulschrift

Lichtinduzierte Defekte in amorphem Silizium

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
87 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Marburg, Univ., Diss., 1987

Schlagwort
Amorphe Halbleiter
Silizium
Gitterfehler
Silicium
Gitterbaufehler

Urheber
Glade, Albert

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:20 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Glade, Albert

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