Towards many-class classification of materials based on their spectral fingerprints

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
In: OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle, 103-112, KIT Scientific Publishing, Karlsruhe

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Karlsruhe
(wer)
KIT Scientific Publishing
(wann)
2018
Urheber
Richter, Matthias
Beyerer, Jürgen

DOI
10.5445/IR/1000082544
URN
urn:nbn:de:swb:90-825443
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:49 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Richter, Matthias
  • Beyerer, Jürgen
  • KIT Scientific Publishing

Entstanden

  • 2018

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