Towards many-class classification of materials based on their spectral fingerprints
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
In: OCM 2015 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings. Hrsg.: J. Beyerer, F. Puente León, T. Längle, 103-112, KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Karlsruhe
- (wer)
-
KIT Scientific Publishing
- (wann)
-
2018
- Urheber
-
Richter, Matthias
Beyerer, Jürgen
- DOI
-
10.5445/IR/1000082544
- URN
-
urn:nbn:de:swb:90-825443
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:49 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Richter, Matthias
- Beyerer, Jürgen
- KIT Scientific Publishing
Entstanden
- 2018