Introduction to spectroscopic ellipsometry of thin film materials : instrumentation, data analysis, and applications
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783527349517
3527349510
- Maße
-
25 cm, 408 g
- Umfang
-
x, 187 Seiten
- Sprache
-
Englisch
- Anmerkungen
-
Illustrationen
- Klassifikation
-
Physik
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Weinheim, Germany
- (wer)
-
WILEY-VCH
- (wann)
-
[2022]
- Beteiligte Personen und Organisationen
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:08 MEZ
Datenpartner
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Beteiligte
- Wee, Andrew T. S.
- Yin, Xinmao
- Tang, Chi Sin
- Wiley-VCH
- WILEY-VCH
Entstanden
- [2022]
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