Quantifying the Reliability Performance of a Guided Wave-Based SHM System Using Piezoelectric Wafer Actuator Sensors
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Englisch
- Erschienen in
-
Quantifying the Reliability Performance of a Guided Wave-Based SHM System Using Piezoelectric Wafer Actuator Sensors ; volume:29 ; number:7 ; year:2024
E-Journal of nondestructive testing ; 29, Heft 7 (2024)
- Urheber
-
Eiras, Jesus N.
Gavérina, Ludovic
Mastromatteo, Loïc
Roche, Jean-Michel
- DOI
-
10.58286/29867
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2502041154578.636693610377
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:20 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Eiras, Jesus N.
- Gavérina, Ludovic
- Mastromatteo, Loïc
- Roche, Jean-Michel