Untersuchung spezieller Störsubstanzen im Silizium

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
80 S.
Edition
Als Ms. gedr.
Language
Deutsch
Notes
33 Ill. u. graph. Darst.
Mit 33 Abb., 9 Tab., 29 Literaturstellen.

Bibliographic citation
Forschungsbericht ; T 75,31 : Elektronik

Keyword
Schwefel
Dotierung (Halbleitertechnik)
Silizium
Halbleitertechnik
Selen
Schwefel
Silicium
Halbleitertechnologie
Selen

Event
Veröffentlichung
(where)
München
(who)
Zentralstelle für Luft- u. Raumfahrtdokumentation u. -information (ZLDI) d. Dt. Forschungs- u. Versuchsanst. für Luft- u. Raumfahrt e.V.
(when)
1975
Creator
Sommer, Karl Heinz
Contributor

Table of contents
Rights
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Last update
11.06.2025, 1:39 PM CEST

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Time of origin

  • 1975

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