Forming‐Free Grain Boundary Engineered Hafnium Oxide Resistive Random Access Memory Devices
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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In: Advanced Electronic Materials, 5, (10), Wiley-VCH
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Darmstadt
- (wer)
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Universitäts- und Landesbibliothek
- (wann)
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2024
- DOI
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10.26083/tuprints-00017041
- URN
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urn:nbn:de:tuda-tuprints-170410
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:45 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Petzold, Stefan
- Zintler, Alexander
- Eilhardt, Robert
- Piros, Eszter
- Kaiser, Nico
- Sharath, Sankaramangalam Ulhas
- Vogel, Tobias
- Major, Márton
- McKenna, Keith
- Molina-Luna, Leopoldo
- Alff, Lambert
- Universitäts- und Landesbibliothek
Entstanden
- 2024