Hochschulschrift
Rasterelektronenmikroskopische Untersuchungen an elektrisch aktiven Defekten in Halbleitern
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
170 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Stuttgart, Univ., Diss., 1988
- Schlagwort
-
Halbleiterbauelemente
Gitterfehler
Silizium
Halbleiterbauelement
Gitterbaufehler
Silicium
- Urheber
-
Bode, Michael
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:57 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Bode, Michael
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