Hochschulschrift

Charakterisierung dünner Edelmetallfilme auf Ruthenium-Oberflächen mittels Xenon-Adsorption und Photoelektronenspektroskopie

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
21 cm
Extent
194 S.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Bonn, Univ., Diss., 1994

Keyword
Ruthenium
Kristallfläche
Edelmetall
Dünne Schicht
Xenon
Adsorption

Creator
Schick, Matthias

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Last update
11.03.2025, 11:57 AM CET

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Schick, Matthias

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