Electrical in‐situ characterisation of interface stabilised organic thin‐film transistors
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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Electrical in‐situ characterisation of interface stabilised organic thin‐film transistors ; volume:9 ; number:7 ; year:2015 ; pages:420-424 ; extent:5
Physica status solidi / Rapid research letters. Rapid research letters ; 9, Heft 7 (2015), 420-424 (gesamt 5)
- Urheber
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Striedinger, Bernd
Fian, Alexander
Petritz, Andreas
Lassnig, Roman
Winkler, Adolf
Stadlober, Barbara
- DOI
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10.1002/pssr.201510169
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2022112406164054492788
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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15.08.2025, 07:37 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Striedinger, Bernd
- Fian, Alexander
- Petritz, Andreas
- Lassnig, Roman
- Winkler, Adolf
- Stadlober, Barbara