Adapting the ESSENZ Method to Assess Company-Specific Criticality Aspects

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Resources (10:6) - Basel : MDPI - Art.-Id. 56

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Technische Universität Berlin
(wann)
2021
Urheber
Yavor, Kim Maya
Bach, Vanessa
Finkbeiner, Matthias

DOI
10.14279/depositonce-12126
Handle
11303/13334
URN
urn:nbn:de:101:1-2021080402124385329089
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:57 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Yavor, Kim Maya
  • Bach, Vanessa
  • Finkbeiner, Matthias
  • Technische Universität Berlin

Entstanden

  • 2021

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