Hochschulschrift
Laserrekristallisation von Silizium: Integration von CMOS-Schaltungen auf isolierendem Substrat
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783181482094
3181482099
- Maße
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21 cm
- Umfang
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147 S.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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77 Ill. u. graph. Darst.
Als Ms. gedr.
Zugl.: Dortmund, Univ., Diss., 1988
- Erschienen in
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Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 82, Reihe 9
- Schlagwort
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CMOS-Schaltung
SOI-Technik
Dreidimensionale Integration
Rekristallisation
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:46 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Hilleringmann, Ulrich
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1988