Hochschulschrift
Charakterisierung von Mikropinchen mittels SXR- und XUV-Diagnostik am Plasmafokus SPEED-2
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
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21 cm
- Extent
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89 S.
- Language
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Deutsch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
Düsseldorf, Univ., Diss., 1996
- Keyword
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Argon
Plasma
Pinch
Röntgenspektroskopie
Emissionsspektroskopie
Vakuumultraviolett
- Creator
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Röwekamp, Peter
- Table of contents
- Rights
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Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
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11.06.2025, 2:12 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Röwekamp, Peter