Hochschulschrift

Automatische Testmustergenerierung für synchrone sequentielle Schaltungen mit Tri-State-Elementen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
III, 141 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Bremen, Univ., Diss., 1997

Schlagwort
Synchrones Schaltwerk
Dreizustands-Logik
Testmustergenerator

Urheber
Cheon, Beom-Ik

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:58 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Cheon, Beom-Ik

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