Theoretical concepts of X-ray nanoscale analysis : theory and applications

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783642381768
3642381766
Maße
24 cm
Umfang
XIII, 318 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben. - Hergestellt on demand

Erschienen in
Springer series in materials science ; Vol. 183

Schlagwort
Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
Nanostrukturiertes Material
Röntgenbeugung
Röntgenstreuung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Heidelberg, New York, NY, Dordrecht, London, Berlin
(wer)
Springer
(wann)
2014
Urheber
Benediktovitch, Andrei
Ferančuk, Ilja D.
Ulyanenkov, Alexander P.

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:47 MESZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Benediktovitch, Andrei
  • Ferančuk, Ilja D.
  • Ulyanenkov, Alexander P.
  • Springer

Entstanden

  • 2014

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