- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783928943437
392894343X
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
V, 138 S.
- Edition
-
1. Aufl.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1995
- Keyword
-
Silicium
Halbleiteroberfläche
Photoelektronenspektroskopie
Reflexionsspektroskopie
Germanium
Halbleiteroberfläche
Photoelektronenspektroskopie
Reflexionsspektroskopie
Galliumarsenid
Halbleiteroberfläche
Photoelektronenspektroskopie
Reflexionsspektroskopie
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Berlin
- (who)
-
Wiss.-und-Technik-Verl.
- (when)
-
1995
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 2:07 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Scholz, Stefan M.
- Wiss.-und-Technik-Verl.
Time of origin
- 1995
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