Ortsaufgelöste Charakterisierung des elektrischen Kontaktverhaltens an Grenzflächen organischer Halbleitermaterialien
- Weitere Titel
-
Spatially Resolved Characterization of the Electrical Contact Formation at Interfaces of Organic Semiconductors
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Gießen, Justus-Liebig-Universität, Dissertation, 2019
- Klassifikation
-
Physik
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Gießen
- (wer)
-
Universitätsbibliothek
- (wann)
-
2019
- Urheber
- URN
-
urn:nbn:de:hebis:26-opus-147554
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
25.03.2025, 13:48 MEZ
Datenpartner
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Beteiligte
- Geis, Clemens
- Universitätsbibliothek
Entstanden
- 2019
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