GD-OES depth profiling and calibration of B doped dielectric layers

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
In: SiliconPV 2019, the 9th International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics / Poortmans, Jef et al. (Hrsg.). - Melville, New York : AIP Publishing, 2019. - (AIP Conference Proceedings ; 2147,1). - 020003. - ISSN 0094-243X. - eISSN 1551-7616. - ISBN 978-0-7354-1892-9
In: SiliconPV 2019, the 9th International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics, 8. Apr 2019 - 10. Apr 2019, Leuven, Belgium

Event
Veröffentlichung
(where)
Konstanz
(who)
KOPS Universität Konstanz
(when)
2019
Creator
Geml, Fabian
Engelhardt, Josh
Steffens, Jonathan
Reinalter, Luis-Frieder
Micard, Gabriel
Hahn, Giso

URN
urn:nbn:de:bsz:352-2-18jp4bq5zklib2
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
25.03.2025, 1:50 PM CET

Data provider

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Associated

  • Geml, Fabian
  • Engelhardt, Josh
  • Steffens, Jonathan
  • Reinalter, Luis-Frieder
  • Micard, Gabriel
  • Hahn, Giso
  • KOPS Universität Konstanz

Time of origin

  • 2019

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