Analysis of crystal defects by scanning transmission electron microscopy (STEM) in a modern scanning electron microscope
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
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2198-0926
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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online resource.
- Erschienen in
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Analysis of crystal defects by scanning transmission electron microscopy (STEM) in a modern scanning electron microscope ; volume:5 ; number:1 ; day:9 ; month:3 ; year:2019 ; pages:1-9 ; date:12.2019
Advanced structural and chemical imaging ; 5, Heft 1 (9.3.2019), 1-9, 12.2019
- Urheber
- Beteiligte Personen und Organisationen
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SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1186/s40679-019-0065-1
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2019040322041930785267
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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14.08.2025, 10:44 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Sun, Cheng
- Müller, Erich
- Meffert, Matthias
- Gerthsen, Dagmar
- SpringerLink (Online service)