Degradation Analysis and Parameter Extraction of Organic Semiconductor Devices : Investigation by means of Complementary Measurement Techniques combined with Numerical Simulation

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch
Notes
Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), Dissertation, 2017

Classification
Elektrotechnik, Elektronik

Event
Veröffentlichung
(where)
Karlsruhe
(who)
KIT-Bibliothek
(when)
2017
Creator
Contributor
Lemmer, U.

URN
urn:nbn:de:swb:90-781292
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
15.08.2025, 7:27 AM CEST

Data provider

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Time of origin

  • 2017

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