Annealing induced void formation in epitaxial Al thin films on sapphire (α-Al2O3)

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: 10.1016/j.actamat.2017.08.050

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Aachen
(wer)
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
(wann)
2017
Urheber
Hieke, S. W.
Dehm, G.
Scheu, C.

DOI
10.18154/RWTH-2017-10200
URN
urn:nbn:de:101:1-2018101807070586529219
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:32 MESZ

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Beteiligte

  • Hieke, S. W.
  • Dehm, G.
  • Scheu, C.
  • Universitätsbibliothek der RWTH Aachen

Entstanden

  • 2017

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