Hochschulschrift | Online-Publikation
Anwendung der Röntgenbeugung zur Analyse der strukturellen Eigenschaften von homo- und heteroepitaktischen Halbleiterschichten auf ZnSe-Basis
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Bremen, Univ., Diss., 2000
- Schlagwort
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Zinkselenid
Halbleiterschicht
Epitaxieschicht
Röntgenbeugung
- Urheber
- URN
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urn:nbn:de:gbv:46-diss000000558
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:44 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
- Online-Publikation