Hochschulschrift
Beständigkeit gegen Kriechwegbildung bei erhöhten Frequenzen
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783800735273
- Maße
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21 cm
- Umfang
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V, 173 S.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: München, Univ. der Bundeswehr, Diss., 2013
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
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Elektroisolierstoff
Kriechstromfestigkeit
Thermische Belastung
Frequenzgang
Kriechweg
Gasentladung
Werkstoffschädigung
Lebensdauer
Prüftechnik
Messwertverarbeitung
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.06.2025, 13:32 MESZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Haim, Mario
- VDE-Verl.
Entstanden
- 2013