Hochschulschrift

Bicharakteristikenverfahren zur Berechnung von Spannungsüberhöhungen an Rissen und Materialgrenzflächen unter stossartigen Belastungen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
X, 93 S.
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.

Erschienen in
Fortschritt-Berichte VDI / 18 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 200, Reihe 18

Schlagwort
Rissausbreitung
Stoßbeanspruchung
Spannungsanalyse
Kaustik
Bicharakteristikenverfahren

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Düsseldorf
(wer)
VDI-Verl.
(wann)
1996
Urheber

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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:54 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 1996

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