Hochschulschrift
Bicharakteristikenverfahren zur Berechnung von Spannungsüberhöhungen an Rissen und Materialgrenzflächen unter stossartigen Belastungen
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
X, 93 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss.
- Erschienen in
-
Fortschritt-Berichte VDI / 18 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 200, Reihe 18
- Schlagwort
-
Rissausbreitung
Stoßbeanspruchung
Spannungsanalyse
Kaustik
Bicharakteristikenverfahren
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Düsseldorf
- (wer)
-
VDI-Verl.
- (wann)
-
1996
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:54 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Niethammer, Rupert Joachim
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1996